愛德萬V93000測(cè)試機(jī)是享譽(yù)全球的半導(dǎo)體后道測(cè)試的主力平臺(tái)
Summary:
數(shù)字測(cè)試通道數(shù)：高度可擴(kuò)展性，例：LTH使用PS1600數(shù)字通道卡，可從128通道擴(kuò)展至8192通道（以128通道為最小擴(kuò)展單位）；
數(shù)字測(cè)試速度：以PS1600數(shù)字通道卡為例，具有從100M~1600M數(shù)據(jù)率根據(jù)要求升級(jí)，無需更換板卡，結(jié)合官方合作伙伴Multilane，可以支持112Gbps速率的測(cè)試；
支持多種測(cè)試速度的數(shù)字通道板卡混插；
模擬測(cè)試：各類豐富的模擬測(cè)試模塊可供選擇；
RF射頻測(cè)試：可升級(jí)到4顆器件的并行測(cè)試；
支持高速數(shù)字、復(fù)雜混合信號(hào)、Memory、Flash等各類應(yīng)用；
四種測(cè)試頭(TH)型號(hào)：LTH（64插槽測(cè)試頭），STH （32插槽測(cè)試頭）， CTH（16插槽測(cè)試頭）， ATH （8插槽測(cè)試頭）；