Summary:

實現(xiàn)高通量，單點著陸，完整晶圓生產(chǎn)測試

一次晶圓觸地能夠同時測試多達16,000個芯片

資源最多可配置16,384個“通用通道”-每個都可作為一個

I / O，時鐘，引腳參數(shù)測量單元（P PMU）或設(shè)備電源（DPS）

每個站點支持軟件的靈活性，可滿足小型和大型設(shè)備的引腳數(shù)測試需求

全面的功能和參數(shù)測試功能

針對BIST / DFT測試優(yōu)化的深層功能碼型數(shù)據(jù)和捕獲存儲器

每個通道的PMU，用于每個站點的參數(shù)測試

獨立通道過電流保護，可保護晶圓和探針卡

配置用于大批量生產(chǎn)

兼容行業(yè)標準的探針和探針卡

可作為帶有探針，探針卡和16,384通道探針I(yè) / F的集成測試單元使用

可配置為單系統(tǒng)或雙系統(tǒng)集成測試單元